光导微机介质损耗测试仪产品简介 
       扬州拓普电气科技有限公司研发生产的TPJSC-A 智能化抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）测量。仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰能力强、测试速度在国内同类产品中zui快的优点。

光导微机介质损耗测试仪工作原理
      仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路：
      1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品电容容值（CX）和其介质损耗（tgδ）。
      2、数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、精确、可靠。 

光导微机介质损耗测试仪技术指标
      1、环境温度：0 ～40℃       
      2、相对湿度：30% ～70%
      3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz
      4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm
      5、重量：    约18Kg          
      6、输出功率：0.6KVA
      7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
      8、测量范围及输出电压选择：
                 介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%
                 试品电容容量（Cx）和加载电压：
                 2.5KV档:≤300nF（300000pF）            3KV档:≤200nF（200000pF）
                 5KV档:≤76nF（76000pF）                   7.5KV档:≤34nF（34000pF）
                 10KV档:≤20nF（20000pF）
      9、基本测量误差：
                 介质损耗（tgδ）：1%±7个字（加载电流20uA～500mA）
                 介质损耗（tgδ）：2%±9个字（加载电流5uA～20uA）
                 电容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

友情提醒：购置仪器要选直接生产商的产品，产品质量及售后服务有保证！