产品详情
| 氧化膜测厚仪 北京 | |||
| 型号 | HY.26-T230 | ||
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| 简介 | 氧化膜测厚仪主要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。 氧化膜测厚仪主要技术指标 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[（1～3）%H+1.5] μm（二点校准） | ||
