X射线镀层测厚仪，检测电镀或化学镀金层厚度

韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪

快速无损检测电镀层厚度，可检测镀金，镀银，镀镍，镀锡，镀锌，镀铬，镀钯等
可测量单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

单镀层：如铜上镀镍，铜上镀银，铜上镀锡，铁上镀镍等，不限底材
双镀层：铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍等
多镀层：铁上镀铜镀镍镀银，铜上镀镍镀钯镀金等
合金镀层：铜上镀锌镍等

XRF-2000X射线镀层测厚仪

仪器配置
 
全自动台面

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：15秒
 
精度控制：
      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

X射线镀层测厚仪/X射线金属镀层测厚仪(韩国先锋XRF-2000)
 
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
 
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
以上两款型长容纳样品长宽为55cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,长宽不限)