一、PCT高压加速寿命试验箱符合标准概要：

　　高压加速老化试验箱符合标准zui主要是测半导体主要的作用就是测试半导体的封装湿气的能力,它的有着非常精确的测试能力,非常快,并且他的全程自动可以使得在测试过程中更加的方便快捷测产品被置于严苛之温度,湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,在常见的故障方式是主动的金属花区域所造成的腐蚀或者是短路,或者是封装体在因脚间因为污染造成的短路,广泛应用与线路板多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力与工作应力,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　二、PCT高压加速寿命试验箱主要参数:

　　a.温度范围:+100℃～+132℃.

　　b.温度波动度:±0.5℃.

　　c.温度均匀度:±1.5℃.

　　d.湿度范围:*R.H饱和蒸气.

　　e.湿度波动度:±1.5%R.H.

　　f.湿度均匀度:±3.0%R.H.

　　g.压力范围：+0～2.0./2.5/3.0/3.5/4.0kg/cm2.(供选择)

　　h.循环方式:水蒸气自然对流循环.

　　i.测时间设置：0～999Hr.

　　j.加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约45分钟.

　　k.设备满足：在温度110度、湿度90%，压力2个大气压，或者温度120度、湿度95%、压力1.2个大气压时可有效测试.

　　j.PCT高压加速寿命试验箱升温时间:由100℃升至+132℃约10分钟非线性空载.

　　m.温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率.

　　【选择我们的理由】

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