销售激光位移传感器FS-N11N

技术规格：
得益于 delta cut 技术，滤光片导致的畸变被降至zui低。这些对光学系统的改进意味着光点不仅在RS-CMOS 上聚焦，在目标区域中同样聚焦。这样就能实现之前无法完成的高精度轮廓测量。
同类中zui小的光点直径，ø25 μm（LK-H020），可测量从精细部件到轮廓的任何目标物，度达到zui高水准。
zui大限度地减少粗糙表面的不平整所造成的影响，例如拉丝金属表面和橡胶表面等。以往*的测量度现在已成为现实。
当激光穿透半透明物体后，会从物体表面之下产生漫反射，引起接收光波形缓慢扩大。RPD 算法可以消除扩大的波形带来的影响，并检测到实际峰值。
得益于 LK-G5000 系列中使用的高圆柱形物镜，整个测量范围内的光点宽度始终保持*。这样即使目标距离感测头过近或过远，平分面积始终不变。

产品特性：
看上去平整的表面在放大后就会发现有一些细微的凹凸不平。在使用常规聚焦光点型传感器时，这些细微的表面不平时常会造成测量错误。通过使用宽光点的感测头，就可以均化表面不平整的影响，即使在粗糙物体上也能实现稳定的测量。
这些感测头中的光学系统已经过化，可在高反射率的镜面物体上获得zui大分辨率。通过进一步改进接收光元件的功能性，现在可稳定测量 20 μm 的缝隙。
如今，构建良的ABLE 控制更加强劲。ABLEII 通过平衡激光发射时间、激光功率和增益这三种要素，能够智能化RS-CMOS 功能。此外，ABLE II 具备高速的追踪能力，比常规型号要快八倍。
 

产品说明：

销售激光位移传感器FS-N11N