TL-200 推力测试机是针对物联网RFID电子标签进行芯片推力测试而开发的一款设备，测试的数据能与带电脑控制的推拉力测试机相当，经济实惠，用于实验室和自动化生产线上非常适合。

 TL-200 推力测试机

特点：

1》采用连续变倍显微镜；

2》定制化的推刀；

3》采用进口推拉力测试仪；

4》天线的固定方便快捷，天线吸附带有真空吸附功能；

5》整体加工零件表面采用硬质化处理，大方美观。

操作流程：

1》固定天线到预定位置，打开真空；

2》调整显微镜，能很清晰看到芯片位置；

3》微调推力测试仪至芯片正前方，确定推刀高度；

4》前移推力测试仪，推芯片；

5》察看推力测试仪记录的大推力值，记录下来作为终测试数值；

6》如此循环上面的操作。