韩国微先锋X-RAY膜厚仪

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

韩国微先锋X-RAY膜厚仪

 XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm仪器功能

韩国微先锋X-RAY膜厚仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台

韩国微先锋X-RAY膜厚仪可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统：彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

韩国微先锋X-RAY膜厚仪​基本技术参数：

1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。

三、韩国微先锋X-RAY膜厚仪设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

韩国微先锋X-RAY膜厚仪：检测电子电镀,五子电镀层厚度。可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层