PROTO AXRD 台式X-射线衍射仪

是易于使用,并提供准确、可靠的测量结果与类似的速度全尺寸实验单位。配备强大的混合光子计数探测器,AXRD台式X-射线衍射仪具有极快的数据收集能力。低分辨率扫描数据收集只需3min，高分辨率扫描数据收集只需15-30min。令人难以置信的低角度性能,优秀的峰值低至1o。

600W 的x射线的力量,*可以实现的应用解决峰值：< 0.05°2θ角精度的<±0.02°Δ2θ全角范围,AXRD台式,提供了一个低成本替代粉末衍射,同时保持所有必要的性能,即使是较苛刻的x射线衍射材料调查。
无论你是做阶段识别、定量分析或结构分析AXRD台式带给你多年的方便和价值在一个紧凑的,易于维护系统。

优秀的分辨率，准确性和数据质量

无论你是做阶段识别、定量分析或结构分析AXRD台式带给你多年的方便和价值在一个紧凑的,易于维护系统。

优秀的分辨率，准确性和数据质量

PROTO AXRD 台式X-射线衍射仪 *的x射线探测器

DECTRIS®混合光子计数探测器——高速数据采集

 - 640通道高速固态线性探测器。

 -同时多个通道集合使集合的速度比a快100倍。闪烁计数器 

 -使用硅片技术直接检测x射线。 

 —1 x10 ^ 9计数的计数率/ s 

 -高速采集时间。

 - 32毫米x8毫米传感器区域。

 -优良的信噪比和非常高的动态范围。

 -荧光抑制模式

SPD硅点探测器- XRD和XRF在一个方便的包中。

 -能量甄别单通道固态探测器。

 -*用于高荧光的样品(例如Fe和Co) 

 -不需要衍射光束单色器。

 —Kβ抑制功能 

 —粉使用Kα1模式集合,2或Kβ

 -使用XRF频谱来协助样品的化学鉴定，并改善搜索结果。

  优异的精确性

   我们的全合一软件对粉末模式的数据采集和分析是基本定性和定量分析的*解决方案。XRDWIN的一些*的功能包括:仪器预热和控制、数据采集、k-alpha 1和k-alpha 2分离、数据平滑、集成强度、背景拟合、峰搜索、峰拟合、强度比方法定量分析、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和应变。另外还有ICDD数据库搜索匹配和MDI Jade接口。我们提供无限的软件支持。