XRF9能量色散X射线荧光分析仪

  XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。

（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。

产品特点

*的多光束可调系统

具有高分辨率的探测器

采用XYZ三维样品台

大型样品分析室

CCD摄像及自动定位系统

自动调节双层六通道滤光系统

辐射安全防护

强大功能的软件操作系统

短时间多元素同时分析

无损分析和*的薄样分析技术相组合

多种定量分析方法

无需液氮和水循环冷却

种类齐全的选配标准样品

RoHS/WEEE指令快速分析

XRF9能量色散X射线荧光分析仪 仪器

外形尺寸品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3

主机质量：约45Kg

工作环境温度：0~40oC

工作环境相对湿度：≤80%

元素分析范围：AI-U

含量分析范围：1ppm~99.99%

重复性：＜5%

测量时间：一般60~300s

测量对象：块状物体、粉末、液体

激发功率：50W

探测器分辨率：149gev

输入电源：AC110V/220V

高压电源：0~50kv/0~1mA

X射线辐射剂量：≤1μSv/h

代表性元素120s低检出限LOD(mg/kg)