激光光电探测系统线性性能检测

激光光电探测系统线性性能检测装置于透射式和折反式导引头探测器弥散圆调试与导引头光电线性区测试。

检测红外器件光敏面大小、均匀性、多元器件的*性及串音情况。这对于提高红外系统特别是以探测器为视场光阑的系统搜索和跟踪精度,提高成像系统的清晰度都具有重要意义。红外小光点系统首先要检测光斑弥散圆大小,才能投入使用。迄今为止,几乎所有的红外光学系统的装校和检测都是在可见光谱区进行。这就要求光学系统只能设计成反射系统。随着红外仪器发展,红外透镜已经被采用;在反射系统中常常要加红外波段滤光片;中红外以上的探测器往往都带有透红外而不透可见光的窗口。带有这些光学零件的红外系统,装调和检测不能在可见光谱区进行。

激光光电探测系统线性性能检测技术规格