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ZJC-50E-介电强度及介质损耗试验机

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更新时间:2023-08-15

有效日期:已过期

产品详情

介电常数及介电强度试验仪相关设备及标准:
GB/T1408.1-2016;IEC60243-1:2013绝缘材料电气强度试验方法;第1部分:工频下试验
GB/T1408.2-2016;IEC60243-2:2013绝缘材料电气强度试验方法;第2部分:对应用直流电压试验的附加要求
ASTM D149固体绝缘材料电压击穿的实验方法
GB/T1695-2005硫化橡胶工频击穿强度耐电压测定方法
GB/T1410-2006;IEC60093:1980(已被GB/T 31838代替)
GB/T 31838.1-2015; IEC 62631-1:2011(固体电气绝缘材料介电和电阻特性)第一部分
GB/T 31838.2-2019; IEC 62631-3-1:2016(体积电阻和体积电阻率)
GB/T 31838.3-2019; IEC 62631-3-2:2015(表面电阻和表面电阻率)
GB/T 31838.4-2019; IEC 62631-3-3:2015(绝缘电阻)代替GB/T10064-2006
GBT1692-2008
GB/T1409-2006;IEC60250;
GB/T1693-2007;
ASTM D150-11;
一、不同交联聚乙烯材料电性能对比
   相对介电常数和介质损耗角正切是绝缘材料的两个重要性能指标,作为高压超高压电缆的交联聚乙烯绝缘材料要求两者都较小,通过测试不同交联聚乙烯材料的电性能对比,更能客观的评价自制超净材料与进口材料的差别。


1、不同交联聚乙烯的介电常数、介质损耗关系
   超净交联聚乙烯的电性能测试标准和仪器与聚乙烯树脂一致,测试结果如图3-8和图3-9所示。
   由图3-8和图3-9可知,自制超净交联聚乙烯材料和进口材料的介电常数和介质损耗变化趋势一致,通过上述参数的测定说明材料配方体系的合理性。


2、不同交联聚乙烯的介电强度
   在绝缘结构上施加电压时,在绝缘中就有电流通过,在低电场下,电流符合欧姆定律,在高电场下,电流呈非线性增加,当电场继续升高时,电流剧增,这时高聚物由绝缘状态转为导电状态,这种现象称为绝缘击穿,绝缘击穿决定绝缘结构的最终性能,在工程上至关重要。电介质抗耐电击穿的能力称为耐电性,其以击穿电压和介电强度作为特征参数,电介质单位厚度上所承受的击穿电压称为介电强度,可理解为电介质耐受电压作用而维持绝缘性能的能力。
   介电强度实验采用标准GB/T 1408-2016,实验设备为专用的电压击穿试验仪(ZJC-50E),电压击穿试验仪包括:计算机控制系统、升压系统、检测系统、实验电极系统。采用计算机控制,通过人机对话方式完成对绝缘介质材料的工频电压击穿;升压系统由调压器和高压变压器组成0-S OkV的升压部分,由步进电机均匀调节调压器调整电压变化;检测系统由集成电路组成的测量电路,把模拟信号和开关信号传给计算机运行分析。
   试样为半径100mm的圆片,试片无缺陷和可见杂质。
   将试样电极置入变压器油中,升压速度为1 kV/s,试验电压最高SOkV,环境温度为23士20C,湿度50%}60% o
   1.自制超净材料试样厚度对介电性能的影响改变试样厚度,测试其击穿电压和介电强度,结果如图3-10所示。
   由图3-10可知,通过对自制超净材料不同试样厚度的测试,随着试样厚度的增加,击穿电压提高,击穿强度下降,这表明试样越厚,试样内部所含杂质等缺陷改变试样结构,导致介质损耗增大,击穿强度下降。通过测试结果表明,厚度是影响击穿电压的重要影响因素之一,因此对不同交联聚乙烯材料进行比较测试,应采用相同的试样厚度。
 
2.1.不同交联聚乙烯击穿强度比较:将不同交联聚乙烯试样制成板状型材,试样厚度0.2mm。不同交联聚乙烯材料击穿实验数据如表3-9所示。
注:根据取样的便捷性,自制试样22个,1#试样16个,2#试样14个。

   参考标准—威布尔分析IEC62506,以下列出自制料、1#, 2#威布尔分布数据以及根据数据做出的击穿强度和失效率的相关图,最后根据上述数据推算出最小击穿强度等数据。
   产品击穿强度服从三参数威布尔分布,其寿命分布函数为:
   考虑到三参数威布尔分布参数估计较为复杂,且威布尔分布对低概率不敏感的事实,本文假设位置参数Eo=0,可利用最小二乘法进行回归求出形状参数b和B,通过B求得尺度参E63.z}io
   三家成品的威布尔分析图如图3-11所示。如表3-10所示,根据相关公式可推算出上述参数,并且可得出各自最小的击穿强度分别为自制料为61.74 kV/mm,1#为57.03 kV/mm, 2#为62.57 kV/mm,通过这些数据可以看出自制超净交联聚乙烯料与进口材料水平相当。

   
3.1.不同温度下不同材料的示性击穿强度对比:
本次试验采用自制交联聚乙烯材料与1#进口材料进行对比测试,结果如图3-12所示。
   由图3-12可知,两种材料随温度升高而降低。因为随着温度的升高,材料中导电电子数以及位于晶格畸变能级上的电子数都增加,电子温度也随之升高,从而导致击穿强度降低。
   综上可知在超净交联聚乙烯材料配方体系下自制的超净交联聚乙烯材料随着不同温度的变化,其材料性能基本与1#进口材料保持一致,因此说明自制交联聚乙烯材料水平与国外相当。
 
4.1.不同电老化时间下击穿强度
  将试样制成板状型材,试样和电极规格尺寸如图3-13所示。保持其他条件不变,使试样承受的场强为60kV/mm,结果如图3-14所示。

   理论上讲,剩余击穿强度与老化时间的延长将呈现下降趋势,图3-14总体趋势也基本遵循这一规律,差异之处是试样分散性导致的,但这不影响自制料与进口1#料之间性能的比较。从图3-14可以得出的结论是:自制料与进口1#料之间两种超净料在耐电老化性能上并无本质差异。因此可以推断,自制材料的长期稳定性并不比进口材料的差,可以与其相媲美。


3、不同交联聚乙烯的体积电阻率
   体积电阻率是交联聚乙烯电性能的一个重要指标。体积电阻率是材料每单位体积对电流的阻抗,用来表征材料的电性质。通常体积电阻率越高,材料用做电绝缘部件的效能就越高。
   体积电阻率实验方法参考标准GB/T 1410-2006 0
   试片是直径100mm的圆片,试片厚度lmmo
   实验电压1000V,电化时间3分钟,环境温度为23士20C,湿度50%}60%,
在实验前试片应在温度为23士2 0C环境中不小于3小时。采用三电极系统,将测试装置放置于烘箱内,调节烘箱温度进行测试,测试结果如图3-15所示。
    由图3-15可见随着温度的上升,三家材料的体积电阻率降低的趋势一致,这是由于随着温度的升高,链段运动增强,自由电荷活性增加,自由电荷浓度增加,载流子的移动阻力减小,从而导致体积电阻率的减小。





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