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智能制造网供应网 ASF01-FTB-5240B-光谱分析仪 型号:ASF01-FTB-5240B

ASF01-FTB-5240B-光谱分析仪 型号:ASF01-FTB-5240B

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更新时间:2023-12-10

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产品详情

产 品 说 明
光谱分析仪主要用于对密集型波分复用(DWDM)系统中的光器件如合波器、分波器、光放等器件的光参数进行测量和分析,能够显示各波图形并具有自动校准功能。主要测量和分析的光参数有:
波长参数:中心波长、平均波长、-20dB带宽、截止带宽等参数。功率参数:峰值功率、总功率、信噪比,边模拟制比、增益平坦度等参数。

1. 波长指标
(1) 波长范围 1250~1650nm
(2) 精度
无外部校准光源条件下 ≤±0.03nm
用户校准模式下 ≤±0.015nm
(3) 波长线性度(在C和L段全范围)≤±0.01nm
(4) 分辨率带宽(FWHM带宽)
zui小分辨率带宽小于0.033nm
(5) 调整重复性 ±0.003nm

2. 光功率指标
(1) 线性度 ≤±0.1dB
(2) 平坦度(1530~1570nm) ≤±0.1dB
(3) 偏振相关性(1550nm) ≤±0.15dB
(4) 灵敏度(1550nm) ≤-75dBm
(5) 光抑制比(ORR)
0.1nm ≥35 dB
0.2nm ≥48 dB
0.4nm ≥50dB
(6) zui大输入功率: +20dBm
3. 信噪比测试精度 (连续波) ≤±0.6dB
测试范围(0.1nm带宽) ≥35 dB
4.光谱仪主要测试功能:
光谱仪应具有如下测试模式:
1) WDM测试模式:能够显示如下指标:中心频率、20dB 带宽,通道信号功率、总功率、信号功率平坦度、信噪比
2) EDFA测试模式:能够显示如下指标:噪声指数、信号增益、增益平坦度、输入信号平坦度、输出信号平坦度
3) 激光器测试模式:能够显示诸如DFB激光器相关指标:包括峰值功率、中心波长、边模抑制比,xx dB带宽等;以及FP激光器相关指标
4)谱损测试模式:能够测试诸如DWDM合波器、分波器等无源器件指标:滤波器峰值波长、插损、插损平坦度、滤波器3dB和20dB带宽
5)漂移测试模式:用于测试WDM系统长时间中心频率、通道功率、信噪比的变化
6)曲线比较模式:该模式可以将不同时间测试的曲线结果进行比较,可用于测试WDM系统维护中系统老化的分析。内容包括中心频率变化、通道功率变化。
应答:满足
7) 波分测试功能:仪表应能够具有对预啁啾DWDM信号测试功能。
5.扫描时间: 扫描周期(全范围数据分析) ≤1.5s


 


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