LE-200J/LH-200J/LZ-200J涂层测厚仪日本KETT膜厚仪

LE-200J/LH-200J/LZ-200J涂层测厚仪日本KETT膜厚仪

特点：本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

型号LZ-200J
         LE-200J LH-200J
测定方法 电磁式 高频涡流式
测定对象 磁性金属上非磁性涂度层 非磁性金属上绝缘层
测定范围 0～1500um  0～800um
测定精度 电磁式：<15um±0.3um   >15um±2%                    高频式：<50um±1um       >50um±2%     
分辨率  ≤100um       0.1um            > 100um 1um   
测试面积 ≥5x5mm
统计功能 测试数/zui大值/zui小值/平均值/标准偏差
界限设定 可设定上/下限数值
测试单位 公/英制
显示方式 LED数显
操作面板 密封防水按键
数据记忆 3142个（*330C系列）
信号输出 RS232标准接口（*330C系列）
附属品 铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源 DV6V 5#电池 x 4个 
体积 75（W） x 145（D） x 31（H）
重量 500g