供应SJ93/TT230G/TT230-经济型手持式/可储存手持式涂层测厚仪,-智能制造网

产品详情

经济型手持式/可储存手持式涂层测厚仪

型号:SJ93/TT230G/TT230

库号：M383643

SJ93/TT230G经济型手持式涂层测厚仪

测量范围 0～1250um
测定对象非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度
测量精度 ±[（1%~3%）H+1.5 分辨率 1μm
电源电池尺寸 150×55.5×23（mm）
重量 0.25（kg）

SJ93/TT230G涂层测厚仪功能与点
采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）；
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）；
具有米、英制转换功能；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。

SJ93/TT230G 经济型手持式涂层测厚仪技术参数
测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
低限分辨力：1μm（10um以下为0.1um）
探头连接方式：一体化
示值误差：
一点校准（um）：±[3%H+1.5]
两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径（mm）：ф5
zui小临界厚度（mm）：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
关机方式：自动
电源：二节3.6V镍镉电池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：250g

强型计算机组成原理实验仪

型号:QDF2-DICE-CP226

库号：M177241

DICE-CP226是我公司推出的一款功能强、性能好,软件硬件都是*的高性能计算机组成原理实验仪产品,系统电路采用了多片CPLD大大提高了可靠性和功能提升的可能性,软件提供了详尽的信息窗口、运行图表和多类帮助信息,使教学的过程轻松自如。

一、系统点
⑴的硬件设计，充分展示计算机结构模型，每个模块均有实时监视，模块间线条明快，数据/指令流向一目了然。
⑵完善的硬件配置，实验电路以分立器件为主，同时配备CPLD，支持部分模块的重构。
⑶ 开放的软硬件设计，支持用户新建指令/微指令的系统设计。
⑷控制器的有机结合，只需拨动开关，可实现微程序或组合逻辑控制的切换。
⑸提供多种工作方式，支持手动、脱机、联机。
⑹提供三总线接口和锁紧插座，支持I/O扩展。
⑺提供多种指令系统，支持基本模型机、指令流水线、RISC模型机实验。
⑻强大的指令功能，支持多种寻址方式和中断、调用等。
⑼丰富的调试手段，具有单步、微单步、运行、暂停等功能。
⑽提供联机调试软件，自带编译器、支持汇编语言源程序调试，图形化动态显示计算机结构模型的数据/指令流向,操作历史记录状态显示，方便用户查找历史记录。

二、系统组成
系统由实验主板、调试软件、内置开关电源组成。
实验主板有：累加器A，暂存器W，寄存器组R0—R3，运算器ALU，直通D/左移L/右移R单元，中断向量IA，堆栈ST，程序计数器PC，地址寄存器MAR，输入IN，输出OUT，存贮器EM，微地址UPC，指令寄存器IR，微程序控制器UM，组合逻辑控制单元，三总线接口，扩展座、二进制开关电平输出/显示，逻辑笔、管理单片机、4×6键盘，字符式LCD，RS232通讯接口。

三、实验项目
（1）寄存器读写实验
（2）运算器八种运算实验
（3）数据输出/移位实验
（4）UPC实验
实验1：UPC加1实验
实验2：UPC打入实验
（5）PC实验
实验1：PC加1实验
实验2：PC打入实验
（6）存贮器读写实验
（7）微程序读写实验
（8）中断实验
（9）模型机综合实验（微程控制器）
实验1：数据传送/输入/输出实验
实验2：数据运算实验（加/减法/或）