粒度仪（颗粒测定仪、沉降天平）
型号:XR36-TCZ系列
库号：M181213
技术参数 XR36-TZC-4型：

天平zui大载荷： 100g
zui小分度值： 1mg
粒度测定范围： 1～360μm
主机功能： 清零、去皮、自校、报警
显示方式： 宽视角背光液晶显示
数据处理： 沉降曲线采集、存储、调用；颗粒大小、中位径、平均粒径、比表面积测定；平均
误差计算；颗粒分布分析；计算结果、图表打印。
工作环境
温度范围： 15～25℃
相对湿度： 50～85%
温度波动度： 1℃ /H

XR36-TZC-5型：

天平zui大载荷： 100g
zui小分度值： 1mg
粒度测定范围： 1～600μm
主机功能： 清零、去皮、自校、报警
显示方式： 宽视角背光液晶显示
数据处理： 沉降曲线采集、存储、调用；颗粒大小、中位径、平均粒径、比表面积测定；平均
误差计算；颗粒分布分析；计算结果、图表打印。
工作环境
温度范围： 15～25℃
相对湿度： 50～85%
温度波动度： 1℃/H

标准配置：
主机（自校砝码一只、电缆线二根） 1台
沉降盘 1只
普通沉降筒 2只
使用说明书 1份
合格证 1份
主要点 XR36-TZC系列颗粒测定仪有XR36-TZC-4和XR36-TZC-5二种型号。XR36-TZC-5是参照目前国内外现有的同类型仪器的优点，对原有的TZC-4型进行面升级改进，使沉降式颗粒测定仪的性能达到了新的高度。主要改进的有：

① 对力值传感器的机械部分进行优化设计，提高了仪器的灵敏度和重复性；
② 采用了STN宽视角背光液晶显示器，读数清晰明了；
③ 对数据处理软件进行了多次优化，使计算更流畅，结果更准确，测试范围更宽广；
④ 采用的数据结构，对原有的数据库程序进行重新编制，性能更加稳定可靠。

测试原理
根据斯托克斯定理，粉尘颗粒在沉降过程中，发生颗粒分级，因而静止的沉降液的粘滞性对沉降
颗粒起着摩擦阻力作用，按公式计算：
r = 9η/ [2 g （γk –γt ）] • （H / t）
式中：
r = 颗粒半径 cm
η= 沉降液粘度 泊，即 克/厘米•秒
γk= 颗粒比重 克/厘米3
γt = 沉降液比重 克/厘米3
H = 沉降高度（沉降液面到称盘底面的距离） 厘米
t = 沉降时间 秒
g = 重力加速度 980厘米/秒2
当测出颗粒沉降至一定高度H 所需之时间t 后，能算出沉降速度V、 颗粒半径r。所谓沉降分析
法应用此理论来求得颗粒分布情况。

经典的测试原理、清晰明了的测试过程、稳定可靠的测试数据、快速方便的数据处理、简单易懂的操作、值的性价比，尤其适合工矿企业实验室做质量检测以及大专院校的师生开展相关科研。
仪器介绍 TZC系列颗粒测定仪是一种利用沉降原理的智能化颗粒度测定仪器，能测定1~600μ之间的颗粒大
小及分布。仪器由高精度电子天平和计算机及颗粒度数据处理软件组成，计算机自动记录颗粒沉
降的过程——沉降曲线，进行各种计算，打印出数据图表。

XR36-TZC系列颗粒测定仪具有测试精度高，计算简便快速、性能稳定可靠、操作简单方便。

仪器广泛适用于测定：颜料、研磨料合成树脂、化妆品、药品、玻璃、粉末冶金、水泥、塑料、
耐火材料、涂料、石油、煤炭等工业的粉尘粒度及分布情况，是从事颗粒度研究和测试工作的科
技人员的常用仪器。

公司承诺：质量服务承诺：
1.质保期十八个月，终生免费维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换
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