产品详情
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。
选型说明
每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括:控制器,振动台,传感器, 灵敏度测试单元,软件, 示波器, 电缆, 耗材, 及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定,我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量,全频率范围内为400克,换能器台面直径为22mm~150mm,换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度zui高,故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件zui大扁平面面积。产品型号包括:4511A(22mm台面)4511L(50mm台面)4511M(100mm台面) 4511M6(150mm台面)
设备用途
用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。
适用范围
用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。
技术参数
振动规格:
频率范围:25 至250Hz, 正弦曲线
其他振动模式:随机极限,75 至400Hz平坦频率
自动阶型频率,40至250Hz
低频率程序:zui大振幅保护随频率变化
频率分辨率:1Hz
时间:每个程序0.1至25.5秒
时间程序分辨率:0.1秒
振幅:0.1至25.50’G’峰值,4位数显
振幅程序分辨率:0.1’G’
重复性:0.5’G’峰值,带反馈控制
D.U.T. 载荷:zui大350g(整个范围)
zui大400g在60Hz
冲击规格:
方法:冲击台反馈控制
自适应D.U.T. 载荷冲击
振幅:100至2500’G’可编程
程序分辨率:10’G’
重复性:50’G’内
脉冲宽度:<100微秒在50%振幅下
典型的是150-200微秒在10%振幅下
冲击延迟:冲击脉冲下降沿时间,从25至250微秒
D.U.T. 载荷:振幅随负载轻微下降;
zui大能力500克在1000g振幅下
(可能需要改变程序值来加大载荷)
zui大载荷规格:
振动台极限:800克;振动极限:400克W/传感器
冲击极限:500克(可能需要增加程序值)
电气规格:
电源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz可选
功耗:zui大300瓦;额定功率放大:zui大动态加载100w RMS