高低温温度冲击试验箱的用途：

      高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的*的一项测试箱

高低温温度冲击试验箱的材质：

1、系统容量：可登入150组程式×1500段，段数可任意分割，程式可自由相互联结。
2、循环设定：可执行9999×999回次数循环，且可再切割出5组独立之部份循环。
3、控制方式：恒温恒湿箱采智能型正逆双向同步输出，内含*之斜率控制逻辑。
4、资料设定：触控式对话框设定模式，操作简易明确，内建目录数据管理系统。
曲线绘制：当温、湿度、时间资料设定完成，可立即转成设定曲线，运转中亦可获取实际运转曲线之绘制。
5、时间讯号：3组时式控制输出接口，搭配10种之时间控制模式，方便执行外部驱动组件启/停之时式规画。
6、终了温度：在完成测试时，可选择执行返回常温之状态，以利测试物取出。
安全检知：15项全功能之系统侦测，确保机台运转安全.并可自动显示故障时间、项目及排除对策。
7、异常追溯：可显示记录故障之历史资料，如过去曾发生故障之原因与发生时间之统计记录。
8、外部保护：独立于主控制器之电子式超温保护装置，可设定受测对象之温度上限保护。
9、通信接口：标准通信接口装置，可与个人计算机（PC）同时联机多机控制及管理。

高低温温度冲击试验箱的型号：

型号：F-TH-60【A～C】内箱35×40×35（W×H×D）㎝
2．型号：F-TH-80【A～C】内箱40×50×40（W×H×D）㎝
3．型号：F-TH-120【A～C】内箱50×60×40（W×H×D）㎝
 

高低温温度冲击试验箱的参数：

工作室尺寸：2500*4500*2500
温度范围：-40℃～+100℃
湿度范围：30%-98%RH
温度均匀度：≤2℃
温度波动度：高温段≤±0.5℃
低温段：≤±1℃
湿度偏差：+2/-3%RH
升温速率：≥2～3℃/min可调整
降温速率：≤1℃/min可调整
使用环境温度：15℃～35℃
使用环境湿度：不大于85%RH

高低温温度冲击试验箱满足标准：

　本产品严格按GB/T16422.2-99的技术参数设计制造.同时符合(GB/T1865-2009、GB/T9344-88、ASTMG155、GB/T16422.2、GB/T2423.24-1995、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412)等相关标准

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