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X射线荧光光谱仪EDX-630A X射线荧光光谱仪 荧光光谱仪
电致冷高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源:采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,高速风扇制冷,设计寿命5万小时。
高像素摄像头:内置高清摄像头以及电动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
*的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏,确保操作人员的安全。
超安全样品腔:采用*的“山”字形设计样品腔与仪器接合,精密科学计算仪器外壳厚度,选择重量与安全*平衡点,既保证仪器使用的安全,也有效减轻仪器重量。
智能准直器、滤光片切换系统:智能软件切换系统,确保准直器和滤光片精准自动切换,无需人工干预,减少人为操作造成的失误和错误结果。采用新型滤光片,有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。*光学准直器,光束zui小直径达0.025mm,集中X射线光束,增强荧光强度,提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
*的光谱分析方法:紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法,zui大程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。
**镀层厚度分析:选用的功能模块实现对镀层厚度的分析,使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析
X射线荧光光谱仪 技术参数
技术指标 基本参数 探 测 器 145eV FWHM @ 5.9keV 外型尺寸 662 X 522 X 422 mm 稳 定 度 小于 0.05% 样品腔 424 X 323 X 155 mm 测量对象 固体、液体、粉末 输入电压 AC 220V /50HZ 测量时间 60-300s 功 耗 260W 元素范围 硫(S)-铀(U) 重 量 48Kg 检测下限 2ppm 工作温度 20-30℃ 含量范围 2ppm-99.99% 工作湿度 40-70% X光管压 1-50KV X光管流 1-1000 μA **测镀层 0-40 μm