一、产品介绍：

本产品中光谱仪的激光光源发射谱线，经过测试样本后，光谱仪接收谱线，谱线经过光栅分谱后形成光谱，测量每种谱线的强度，再对比穿过样本前谱线强度，计算出样本的透过率，或者测试样本的厚度。本产品中采用了*的共聚焦技术，光谱、成像以及献策光源共焦于一点，确保不会受到外部光源的干扰，提高检测和成像效果。本产品主要用于测量各种光学元件和高分子材料的透过率，检测产品的质量，以及用于检测各种不规则薄膜、塑料薄膜等的厚度。相对于之前市场上的透过率检测仪，本产品的误差更小，并且可以同时进行透过率和厚度的检测，本产品采用了共聚焦技术，能够有效 防止杂质信号，如灰尘荧光、样品背面污染、玻璃的荧光信号、空气中常见的灰尘颗粒等产生的背景噪音的影响，大大提高了测量精度。

 二、应用领域：

●面板、遥控设备、小孔透过率检测，微小滤光片透过率检测。

●滤光片、有机材料、镀膜片透过率检测。

●微孔滤光片、薄膜材料透过率检测。

●毛细管、液滴、微量溶液透过率检测。

●不规则薄膜、塑料膜层、高分子材料膜层膜厚检测。

●薄膜厚度检测。

三、产品优势

采用*的共聚焦技术，光谱，成像，检测光源共焦于同一点，保证所见即所测。

●采用宽波段消色差技术，400-1000nm范围内色差控制在较小的范围内。

●检测信号强，光学系统的数值孔径为0.18，比普通显微镜的0.02大9倍。

●测量斑点小，5倍镜头下，检测光斑小于0.1mm。

●无需担心外界光干扰，在共焦的条件下外界光无法进入系统光路。

●采用进口光谱仪为检测器，提高光谱的灵敏度和稳定性。