7200 ICP-OES等离子体光谱仪

电感耦合等离子体-光学发射光谱法 (ICP-OES) 是对液体和固体样品中的痕量元素进行分析和定量的*强大技术。

iCAP 7200 ICP-OES 具有以下特点和优势：

7200 ICP-OES等离子体光谱仪取样系统：

• 分析就绪型样品导入参数不需对泵速、等离子体 RF 功率和气体流速进行优化。
• 一个 3 通道、12 转子的蠕动泵，带有*的排液监测传感器，提供顺畅、低噪音的信号和安全的操作。
• 插入式炬管座和接头方便安装/拆卸。
• 组合式进样系统易于重新配置和维护。
• 增强基质耐受 (EMT) 炬管设计改善了高基质样品的操作。
• 光学排液监测传感器可监测来自雾化室的排液情况，在发现不正常排液的情况下可自动熄灭等离子体炬焰。
• 适用于一系列自动进样器，从而可在无人照看的条件下自动分析。

等离子体和射频发生器：

• 双向（垂直和水平）等离子体观测。

光学系统：

• 气体净化流速低，可降低运行成本。
• 高光传输效率的光学设计可提供优异的灵敏度。
• 高分辨率中阶梯光谱仪通过减少光谱重叠提高检测准确度。
• 恒温受控式多色器采用中断加热设计，可增强稳定性并延长分析运行时间，不需重新校准。

检测器：

• 包含电荷注入装置 (CID) 检测器 CID86。
• 可在 166-847 nm 的范围内自由连续选择波长。
• 具备抗邻近像素晕光效应的功能，减少了复杂样品基质引起的假阳性结果。
• 非破坏性读取和随机存取的集成改善了信背噪音和检测限。