Flex-ANA自动力谱成像原子力显微镜

高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析
针对不同模型来测量粘弹性、硬度、黏附力与压入深度
智能软件自主处理测量需求
样品高度起伏可达5mm，力谱曲线范围Z向可达100µm

Flex-ANA自动力谱成像原子力显微镜系统是基于AFM的纳米机械性能分析的自动解决方案.Flex-ANA专门设计用来研究各种材料的纳米机械性能，特别对于细胞,组织,基因组,水凝胶与聚合物材料等，对于多个样品或者大起伏样品更有优势，主要通过力谱曲线与力谱成像测量来进行直观而自动的方式来进行。系统的主要特点集成了直观的实验条件设置、后处理工作流、可选硬件元件、清晰而设计新颖的控制算法. 利用图像预览可以在大样品或者多个样品上自定义测量位置，大视场范围可覆盖32 mm × 32 mm的样品区域. 样品表面的起伏在5 mm以内都可以让系统自动进行测量!

测量过程中，通过智能的算法来协调测量头的移动与自动化XYZ移动台的移动(32 mm × 32 mm × 5 mm 范围), 还可以选配一个100-µm Z向压电扫描器用作大范围的力谱测量. 为了适应样品的高起伏度, 算法保持监测与优化样品高度，根据探针位置并相应驱动所有Z向元件. 因此, 对于软的或者粘性大的样品, 或者不管是范围在几个毫米的宏观粗糙度样品还是几个微米的微观粗糙度样品, 都可以轻松地解决.