三目正置金相显微镜XJ-53C配置了立杆式的机架和移动工作台，显微镜主体可大范围升降和360°旋转。尤其适合于观察有一定高度的大工件试样，也适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，材料表面的某些特征（划痕、裂纹、喷涂的均匀性），化学颗粒等方面的研究。总放大倍数：50X-625X 

三目正置金相显微镜XJ-53C

◆性能特点： 
1、配置了立杆式的机架，适合于观察有一定高度的大工件试样。
2、采用了优质的光学系统设计，视野宽阔，视场平坦,成像清晰。 
3、配置了带偏光装置落射照明系统，适合观察高反光材料表面。
4、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
◆典型应用：
1、分析金属、矿相内部结构组织。2、电子厂PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性， 如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性。

显微镜参数：

目镜参数：