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红外导引、控制测试系统简介
可以检测各种红外头的快速更换的优点。由于它是红外全波段的工作，因此可以适用于各种红外制导的检测工作。
导引头的跟踪精度是由导引头引起的瞄准误差。提高红外成像导引头的跟踪精度就是要减小导引头系统的静差。导引头跟踪精度越高，系统的静差越小，导引准确性就越高，制导精度也就越高。大跟踪角速度也就是红外成像导引头的重要性能指标之一。
红外导引、控制测试系统技术规格
焦距 | f′=320mm |
口径 | D=Φ68mm |
工作波段 | λ=1～12μm |
黑体有效温控范围 | 50～500℃ |
目标摆动范围 | 2ω=±30º |
目标归零 | ±0.1º |
