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智能制造网供应网 TSL-武汉可程式高低温冲击试验箱

TSL-武汉可程式高低温冲击试验箱

  • 产地
  • 所在地
  • 东莞
  • 湖北武汉市

更新时间:2020-08-15

有效日期:已过期

产品详情

武汉可程式高低温冲击试验箱

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
 

型号

 

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

+60~+200℃

升温速率※1

+60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0℃

降温速率※1

+20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2℃

温度范围

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

 武汉可程式高低温冲击试验箱

 


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广东宏展科技有限公司

型:
生产厂家
联系人:
蹇小东

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商家概况

主营产品:
试验箱
公司性质:
生产厂家

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