上照射式 X射线荧光光谱仪PrimusII是理学公司奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析，软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式，进行EZ扫描，应用模板可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中，FP无标样分析，是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容，标准样品,操作手册全中文提供,方便用户PAS自动调整,芯线自动清洗，给用户带来方便。

主要特点： 
1、轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高；
2、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75；
3、重金属的高灵敏度分析-采用型光学系统； 
4、高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm；
5、优良的无标样分析的SQX软件；
6、仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间。

应用软件包： 
1、设定样品（标准样品、漂移校正样品）。
2、CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。

其它特点的软件功能：
1、SQX分析功能；
2、Mapping数据库； 
3、材质辨别；
4、理论重叠校正； 
5、自动程序运转； 
6、校正投入量计算。

流程条：
测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。

散射线FP法：
不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。

应用模板：
各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 

定点分析 
100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 
上点、区域、线。定点直径500μm。 

采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 
节能、节省空间 
节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） 
PR气体流量减少（5mL/min） 
省空间 
采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 
便于维护 
PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 

技术参数：
硬件： 
对应超轻元素的X射线光管 
采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 
采用新型光学系统 
采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 

48样品交换器 
实现平台式共享化，可放置48个样品。 
多样品交换器实现了省空间。 

1次X射线滤光片 
除去X射线光管的特征X射线光谱， 
在减低背景干扰方面发挥威力。 

双泵、双真空系统 
采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 
防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 
的结构设计，样品交换实现更高效率。 

粉末附件 
电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 
真空泵内。 

上照射式 X射线荧光光谱仪PrimusII