HAST未饱和高压蒸汽试验箱 加速温湿度应力

 HAST高加速寿命试验设备又名HAST高压加速试验机，广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试险的目的是提高环境应力，如温度与工作应力(施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。需要加电的简称为HAST或BHAST，不加电的简称为UHAST或UHST。

具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水容器具有防爆资质，最大承压0.8MPA。运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到蒸气品质。一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。双重过热保护，温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源

 HAST未饱和高压蒸汽试验箱 加速温湿度应力

1、温度范围：105~132度或105~143度或105~155度，三个温度规格供选择

满足温度范围+105℃~+162.5℃,压力范围0.05~0.3Mpa

2、压力范围：0.2～2㎏/㎝2(0.05～0.196MPa) 、0.2～3㎏/㎝2(0.05～0.294MPa)、0.2～3.5㎏/㎝2(0.05～0.343MPa)（可选）

3、加压时间：约45min

4、外部气源加压时间：约5 min

5、温度均匀度：≤±0.5℃（湿度100%R.H），≤±1℃（湿度75%R.H）

6、温度波动度：≤±0.5℃

7、湿度范围：65%～100%R.H

8、湿度波动度：≤±2.5%R.H.

 HAST未饱和高压蒸汽试验箱 加速温湿度应力

 常用试验条件有2种：

  1. 130℃，85% RH，230kPa（相当于2.3个大气压），96小时。

  2. 110℃，85% RH，122kPa（相当于1.2个大气压），264小时。

  HAST偏压设计既要保持芯片待机但又不能因为芯片自身发热，湿气无法进入，从而达不到湿气侵入芯片效果。遵循的规则如下：

  1. 最小功耗；

  2. 尽可能多的交替加压；

  3. 尽可能多的不同金属层之间交替加压；

  4. 应用范围内最大电压。