日立SEM扫描电镜

日立TM4000Ⅱ扫描电镜*的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 TM4000Ⅱ优化提供5kV、10kV、15kV、20KV四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的SEM-MAP导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳*样品直径80mm，厚度50mm。
TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD，该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000PlusⅡ可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示，获得*多的样品信息。TM4000PlusⅡ可以选配Multi Zigzag功能，可实现大范围自动连续拍照和自动拼图功能。

日立SEM扫描电镜

主要参数：

1. 观察条件:5kV/10kV/15kV/20kV（均四档可调）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 观察模式：导体、标准模式，消除电荷模式
4. 探测器：4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器（TM4000Plus）

应用领域：生命科学、材料科学、化学、电子制造、食品工业