• 简介

• TH2826 系列元件测试仪是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。

  TH2826 系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超 高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。

    性能特点

    ■ 符合LXI标准

    ■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进

    ■ 测试电平10mV～5V， 1mV步进

    ■ 基本准确度0.1%

    ■ 达5ms的测量速度

    ■ 320×240点阵大型图形LCD显示

    ■ 10点多参数列表扫描功能

    ■ 图形化扫描功能

    ■ 四种信号源输出阻抗

    ■ 10档分选功能，分选结果声音报警

    ■ 存储空间：20组设定文件，USB扩展

• 应用

• ■ 无源元件

     电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析

  ■ 半导体元件

     LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

  ■ 其它元件

     印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

  ■ 介质材料

     塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

  ■ 磁性材料

     铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

  ■ 半导体材料

     半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

  ■ 液晶单元

     介电常数、弹性常数等C-V特性

  
  

• 技术参数

• 测试参数	C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
  测试频率	TH2826A	20 Hz～2MHz,10mHz步进
  测试信号电平	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
  	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
  输出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
  基本准确度	0.1%
  显示范围	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
  	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
  	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
  	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
  	D	0.0001 ～ 9.9999
  	Q	0.0001 ～ 99999
  	θ	-179.99°～ 179.99°
  测量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
  校准功能	开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
  等效方式	串联方式, 并联方式
  量程方式	自动, 保持
  显示方式	直读, Δ, Δ%
  触发方式	内部, 手动, 外部, 总线
  内部直流偏	电压模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
  置源	电流模式（内阻为50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
  比较器功能	10档分选及计数功能
  显示器	320×240点阵图形LCD显示
  存储器	可保存20组仪器设定值
  接口	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
  	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
  	LAN(LXI class C support)
  	RS232C
  	HANDLER
  	GPIB（选件）