产品详情
PDA紫外可见分光光度计OPTIZEN™ Alphalook PDA 紫外可见分光光度计使用简单而精确的光学系统在短时间内扫描从紫外线到可见光的无线电场, 并检查波长数据的结果。 此外, 由于与各种配件兼容, 因此可以通过简单的操作方便地测量复杂样品和大量样品。
主要特征：
-便利的操作界面
-基于Windows的台式PC软件支持
-氙灯
-可使用测量光谱的简易标准曲线, 及通过用户想使用的画面来创建数据表
-高分辨率带来更加清晰的画面。(支持高分辨率2560*1600)
产品参数：
| 光度系统 | 单光束类型 |
| 光源 | 氙灯 |
| 检测器 | 光电二极管阵列 |
| 光谱带宽 | 1.0 nm (190 - 1100 nm) |
| 波长范围 | 190 - 1100 nm |
| 波长显示 (设置) | 0.1 nm |
| 波长准确度 | < ± 0.5 nm |
| 波长重复性 | < ± 0.1 nm |
| 测量时间 | 最小1 s (全波长范围) |
| 光度准确度 | < ± 0.005 A (NIST 930E 滤波器), < ± 0.01 A (重铬酸钾) |
| 光度噪声 | < 0.0005 A (at 500 nm) |
| 漂移稳定性(RMS) | < 0.001 A/h |
| 标准比色皿支架 | 单个比色皿 |
| 操作系统 (OS) | Windows® |
| 外观尺寸(W*D*H) | 587 mm*315 mm*203 mm |
| 其它端口 | 乙太网路 |
| 电压 | 90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz |
| 重量 | 14.52 kg |
产品详情：
OPTIZEN Alphalook 是可以利用光电二极管阵列一次性实时测量紫外、可见(190 nm~ 1100 nm) 光的波长的分光光度计。测量全波长范围所需的时间是2秒左右, 适合用于波长的反复分析或是光谱动态特性的确认以及多种波长范围中的定量分析。还可以通过外面的一键式按钮来测量样品, 可以与安卓平板电脑和Windows电脑兼容。
产品信息：
-利用外部按键简单快速进行测量
-防止异物损坏高精密光学配件的石英镀膜处理
-利用手动螺丝, 方便更换比色皿支架
-在电源不稳定的情况下无需单独的变压器或稳压器即可运行
-分析的资料可转换PDF和EXCEL
-提供更清晰的高分辨率屏幕
-使用氙气闪光灯作为灯源, 无需更换灯就可以半性使用
-实时测量所有区域的频谱
