产品详情
产品介绍：
操作简单且直观
*:和TM4000Plus搭配应用实例
*:探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)
产品特点：
通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布
移动到位置，可实时确认其谱图
双屏显示
仅需选择图像和模板，即可在生成Word?、Excel?、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。
超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果
点分析
可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。
实时在线谱峰剥离面分布
分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。
产品规格：
| 项目 | 内容 |
| 探测器类型 | 硅漂移探测器 |
| 探测器面积 | 30 mm² |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV) |
| 可检测元素 | B5～Cf98 |
