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| X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。 | FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而**的分析。分析范围从铝（Al)到铀（U），即使含量很小也可以测量。 这些的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。 如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠宝和贵金属领域快速、无损和**测量金含量的理想设备。 详细内容参见下面表格。 |
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