产品详情
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ASW-SG125VF晶片映射传感器日本TAKEX竹中
产品概述:
•稳定检测SiC晶片、蓝宝石晶片、硅晶片、半透明晶片等
•支持6812英寸晶片
•支持半透明晶片的检测模式装备( 812英寸用)
•防止梳部静电破坏( 6812英寸用)
产品规格:
检测对象:晶片种类12英寸晶片
(正常模式:透射率30%以下/锁存模式:透射率70%以下)
检测通道数:25ch
间距:10mm
检测方式:透过型
操作电源:DC12~24V±10%
波纹:10%以下
功耗:1.9W以下
动作模式:暗开
输出正常模式/输出锁存模式切换动作(开关切换)
异常输出:异常时ON
输出模式:NPN开路集电极输出
额定:漏电流30A(DC30V)以下
响应时间:35ms以下
投光用光源(波长):红外LED(870nm)
连接方式:连接器式欧姆龙MIL连接器XG4A-3031
材质:传感器单元(梳):聚碳酸酯、外壳:铝
重量:约270g(电缆除外)
附件:使用说明书
使用环境温度:-10~+55℃(未结冰)
使用环境湿度:35~85%RH(非冷凝)
保护结构:IP40
耐振动:10~55Hz双振幅0.5mmX、Y、Z方向各2小时
耐冲击:300m/s2X、Y、Z方向各3次
相关型号:
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