二维材料电性能分析数字源表

源于超薄的厚度引起的量子限域效应，使得二维材料在透明电极、光电探测器、气敏电阻、太阳能电池等领域得到广泛应用。霍尔效应及电阻率是表征纳米材料电性能的重要手段之一。

测试面临的挑战

电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备具备电流源以及电压表的功能。

不同种类的材料，电阻范围超宽，从mQ~GQ;

材料的电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要设备具备的电流范围大。

二维材料电性能分析数字源表认准普赛斯仪表，普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验B备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!