艾思荔半导体hast老化试验箱高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，采用数控机床加工成型，并采用三角丁字形把手，牢固，防止高温冲击，**可靠。圆形箱体后面设计长轴风冷马达，有助风力增强，试验不中断。由多层线路板，电器配置优的电子元器件。采用多组耐高温电磁阀，具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。

半导体hast老化试验箱技术要求：

1、温度范围 105℃ → +132℃. (控制点) 温度波动度 ±0.5℃.

2、温度偏差 ±2.0℃.

3、湿度范围 75% ～ 100 %R.H . (控制点)

4、湿度波动度 ±2.5 %R.H.

5、湿度均匀度 ±5.0%.

6、压力范围 0.5～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) (控制点)

7、升温时间 常温 → + 132℃ 35 min .

8、升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 40 min.

9、具有自动加水功能并且在试验过程中水过低时自动补水。  

10、试验过程自动运转至完成结束，使用简便。

11、温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。  

12、计时器：LED数字型计时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验。  

13、准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。  

14、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。  

15、一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。  

16、内经抛光处理经久耐用美观    

半导体hast老化试验箱不工作：

1、定期检查所管路及接头，如发现泄漏或损坏，请立即维修或更换。  

2、试验箱水位抽不上来，检测电磁阀动作是否正常、出现异声或不作业，请即刻更换电磁阀。  

3、电热管老化烧怀，使升温后的温度达不到试验的温度，无法达到效果，联系生产厂家专业人员进行更换电热管，请勿自行更换，以免引起不必要的损失。

半导体hast老化试验箱用途：  

    半导体hast老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。  

半导体hast老化试验箱介绍：

    艾思荔半导体hast老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 已经设计的产品规模推广打入市场，由于国内以前无法生产HAST/PCT，几乎求救于日本、美国等国外昂贵产品，价格居高不谈，而且售后服务效率低以及维护费用高昂，给企业带来很不方便和无形的损失，作为具有十余年环境试验设备研发生产销售及服务的艾思荔箱器，成功研发高温高压蒸煮炉展向市场，已有多年生产技术。