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智能制造网供应网 手持式x射线荧光分析仪 性能稳定 废钢旧金属含量测定

手持式x射线荧光分析仪 性能稳定 废钢旧金属含量测定

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  • 暂无
  • 湖北十堰市

更新时间:2024-04-21

有效日期:还剩72

产品详情

分析方法能量色散X荧光分析方法 测量元素范围镁(Mg)到铀(U)之间的元素均可测量 同时检测元素数几十种元素可同时分析 处理器和内存CPU:667MHz,内存:256M,扩展存储支持32G,标配2G,可以海量存储数据 含量范围ppm~99.99% 检测时间3-30秒 GPS、WIFI内置系统 检测对象固体、液体、粉末 探测器25mm2 0.3mil,SDD探测器 探测器分辨率可达139eV 激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源 视频系统高清晰摄像头 显示屏半透半反式液晶显示触摸屏,其分辨率是640*480 检出限检出限达ppm级 安全性自带密码管理员模式,数据可随意保存 可充气系统常压充氦气系统 数据传输数字多道技术,SPI数据传输,分析,高计数率 操作环境湿度≤90% 仪器外形尺寸234×306×82mm(L×H×W) 仪器重量1.9Kg(配备电池),1.6Kg(无电池)
手持光谱仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器,主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成,由于其便携具有便携、准确等特点,使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。尤其适合于不锈钢材料的牌号确认以及定量测量元素。
手持式光谱仪设备维护与保养:   
1.手持式光谱仪使用过程中应轻拿轻放,防止内部零件受损。
 2.保持检测口薄膜的清洁,检测口薄膜被污染可能引起检测误差。检测口薄膜破损继续使用可能会造成手持式光谱仪的损坏。应及时清洁或更换。   
3.被检测物表面的氧化层和污染物等要用砂轮机或金刚砂去除,以免造成测量结果不准确,被检测物表面凹凸不平、有毛刺时应在检测时注意,防止手持式光谱仪检测口薄膜损坏。检测镀件时,要将电镀层去除。   
4.手持式光谱仪电池使用至10%时,应更换电池,充电。

仪器既可手持1-2秒对样品进行测试,也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试,10秒即可进行接近实验室精度的测量。 数据传输更加高速 采用嵌入式Windows CE系统,高显示分辨率(640*480)液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,采用SPI数据传输,有效提升数据传输能力与数据运算能力。在任何环境中,测试数据都尽在掌中。 防护、关爱健康 三重防护功能,自动感应,具有无样品空测,2秒自动关X光管功能;工作时的水平远低于国际标准,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护罩。 电量强劲、充电方便。

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子,击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知,只要测出荧光X射线的波长,可以知道元素的种类,这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特息。

手持式光谱仪的应用非常广泛,涉及:电力、石化、考古、金属加工、压力容器、废旧物资回收、航空航天、地质勘探、矿山测绘、开采、矿石分选、矿产贸易、金属冶炼、环境监测、土壤监测、玩具、服装、鞋帽、电子产品等众多领域。便宜、的手持式拉曼光谱仪正在迅速成为原料药采购质量控制的有力工具。拉曼光谱仪是未知化合物的有力工具,例如检测高纯度化学品、成分验证和高分子材料的表征。拉曼光谱仪器大受欢迎主要是由于现代仪器所配备的智能决策软件和谱图库,使得它成为理想的分子指纹图谱分析技术。不同于传统的分子光谱技术,拉曼光谱仪可用于生产环境或现场应用,因为它能产生尖锐、特异的谱峰,几乎不需要样品前处理或直接与样品接触。此外,它还具有特的能力,可以通过透明的包装材料,如玻璃或塑料,直接测试样品,并对光谱信息没有任何干扰。手持式光谱仪正在成为原料药采购中质量控制的有力分析工具。其被广泛接受的原因是,它用于仓库化学品的识别,比传统的实验室分析技术更具成本效益。
手持式光谱仪系统误差的来源有: (1)标样和试样中的含量和化学组成不相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,需要采用化学分析方法分析多次校对结果。

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