产品详情
特点配置介绍：
A、箱体结构：外箱采用A3板喷塑处理；内箱采用Sus316不锈钢制成。
B、高精度测试系统：可靠温度测试模块+三菱PLC组成，高精度的整体控制系统。
C、本产品采用双箱体测试结构:测试箱体和蒸汽发生器相互合作，独立动作，与单箱体系统蒸汽在测试箱体生成不同，测试箱体（干）与蒸汽发生器（湿）间的相互干扰降到了低，此外，设置在测试箱体内温度控制器的精度，则由内部加热系统很好的保证着。因此，双箱体可与单箱体媲美大跨度的湿度调节范围，能为测试提供一个适当和稳定的环境。而且偏压测试可实施，高效可靠的测试非常重要，因为它能保证和传统THB测试的紧密联系和互动！
D、一键式电子门锁（按钮）和滑动托盘：使用电子门锁只需按动按钮，门就可以实现打开或关闭；滑动托盘可让托盘与同同时打开，这样使用者就无须在测试结束温度高的时候将手伸入箱内取放样品。
E、偏压测试接头：偏压测试接线柱位于门上，方便接线，端子数量/电流可定制。
F、降压方式：根据测试的目的不同，可选不同的降压方式（三种模式可选）。
G、满足多种测试方法：HAST非饱和蒸汽测试方法、PCT饱和蒸汽测试方法均可满足！
H、安全排水：测试完成后的高温水，经冷却之后再排出！
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度(65%~100%RH可调)、温
度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用
来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境
下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗
入封装体之中，常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断
路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
