产品详情
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1、产品特点：
EIGER2 R CdTe X射线探测器将混合像素光子计数探测器的发展和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe是的选择。
DECTRIS 公司的即时触发技术使他们具有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源所能达到的强度。EIGER2 R CdTe探测器具有两个能量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号，配合 75μm的小像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。
2、核心优势：
– 针对高能射线有的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据
– 即时触发技术使得计数率大幅度提高
– 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制
– 无读出噪音和暗电流，确保了的信噪比
– 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像
3、应用领域：
- 大分子晶体学（MX）；
- 化学结晶学；
- 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 高压晶体学；
| 型号 | EIGER2 R CdTe 500K | EIGER2 R CdTe 1M | EIGER2 R CdTe 4M | EIGER2 R CdTe 2M-W | EIGER2 R CdTe 1M-W |
| 有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 X 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 x 162.2 | 311.1 x 38.4 | 155.1 x 38.4 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
| 总像素数量 | 1028x512 | 1028 x 1062 | 2068 x 2162 | 4148 x 512 | 2068 x 512 |
| 帧频* [Hz] | 100 | 100 | 20 | 50 | 100 |
| 计数器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
| 读出时间 | 连续读数 | ||||
| 点扩散函数 | 1 pixel | ||||
| 传感器材料 | CdTe | ||||
| 传感器厚度 [μm] | 750 | ||||
| 能量范围 [keV] | 8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration) | ||||
| 计数率 [ph/s/pixel] | 5.5 x 106 | ||||
| 尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 |
| 重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 9.7 | 5.8 |
| 冷却方式 | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） |
